Laser verstehen - mit TOPAG die relevanten Parameter erfassen
Zuverlässige Resultate setzen ein präzises Verständnis der entscheidenden Laserparameter voraus. Mit Messtechnik von TOPAG analysieren Sie Strahlprofil, Pulsdauer, Wellenlänge, Wellenfront und weitere Eigenschaften exakt – ob im Labor, in der Entwicklung oder in industriellen Prozessen.
mit Laser-Messtechnik von TOPAG
Präzise Ursachenanalyse
für Ihre Qualitätssicherung
Präzise Strahlcharakterisierung ermöglicht eine schnelle, exakte Justage – die Basis für stabile Prozesse und gute Ergebnisse.
Die richtige Vermessung sorgt für zielgerichtete Einstellungen und verkürzt die Inbetriebnahme komplexer Systeme deutlich.
Ehrliche Empfehlungen von Physikern und Ingenieuren, die den Laboralltag aus eigener Erfahrung kennen.
Technischer Service und Beratung – über den gesamten Lebenszyklus Ihrer Systeme hinweg.
Unser Lösungen für Ihre Anwendungen
Strahl- Charakterisierung
Beam Profiler
Wellenfrontsensoren
M² -Messung
Laserstrahlen messen, verstehen, optimieren.
Ultrakurzpuls-Messtechnik
Autokorrelatoren FROG-Systeme Spektrale Analyse
Femtosekundenpulse analysieren – einfach und schnell.
Spektroskopische Systeme
SFG-Spektroskopie-Systeme ns TA-Spektroskopie-Systeme Echelle Spektrometer
Komplettsysteme mit Laserquelle, Detektion und Software
Infrarot- Sichtgeräte
Handgeräte & Kameras bis 2 µm Lasersicherheit & -justage
Unsichtbare Strahlen sichtbar machen – bis 2 µm.
Die ideale Messtechnik für Sie
Strahl-Charakterisierung
Strahlprofilkameras
Laseranalyse leicht gemacht - Beam Profiler für jede Anwendung
Die Strahlprofilkameras der BeamPro-Serie misst das vollständige optische Intensitätsprofil von Laserstrahlen gemäß ISO 11146-3. Neben Strahldurchmesser und Position erfassen die Kameras auch Form, Divergenz, Ausrichtungsstabilität, Elliptizität und Orientierung des Strahls. Diese Informationen zeigen, ob laserbasierte Systeme optimal arbeiten – entscheidend für Betrieb und Wartung.
M²-Messgerät & Wellenfront-Sensor
Ein Messsystem. Ein Shot. Alle Daten. - Laserstrahlen vollständig charakterisieren
CAM SQUARED ist ein kompaktes System für schnelle und präzise M²-Messungen. Es erfasst gemäß ISO 11146 zentrale Strahlparameter wie M²-Wert, Divergenz, Taillengröße und -position, Rayleigh-Länge und Astigmatismus. Dank des Designs ohne bewegliche Teile ist kaum Justierung erforderlich. CAM SQUARED überzeugt durch einfache Handhabung und hohe Messgeschwindigkeit.
Optional kann das System um eine Funktion zur vollständigen Wellenfrontrekonstruktion erweitert werden – zur Ausrichtung, Kollimation und Optimierung optischer Systeme auf Basis detaillierter Phaseninformationen.
Ultrakurzpuls-Messtechnik
Autokorrelatoren
Schnell. Einfach. Präzise. - Pulsdauermessung neu gedacht.
Unsere Autokorrelatoren verbinden modernste Messtechnik mit höchstem Bedienkomfort. Dank ihrer extrem kompakten Bauweise, schnellen Messergebnisse und präzisen Analyse der Pulsdauer ultrakurzer Laserpulse eignen sie sich ideal für den Einsatz im Single-Shot- und Multi-Shot-Betrieb.
Die Systeme wurden für ein besonders intuitives Nutzererlebnis konzipiert: Sie benötigen weder Kalibrierung noch Ausrichtung, und Fehlbedienungen sind praktisch ausgeschlossen. Trotz ihrer einfachen Handhabung liefern die Autokorrelatoren hochpräzise Ergebnisse – perfekt für Laboranwendungen, Entwicklung und die nahtlose Integration in anspruchsvolle OEM-Systeme.
Single-Shot Autokorrelator ROC
Einzelpulsdauermessung leicht gemacht
- Wellenlänge: 480-2100 nm
- Pulsdauer: 5 fs – 10 ps
- Repetitionsrate: Einzelpuls bis 125 kHz
- Features: kompakt, robust und präzise; designt für schnelle und einfache Messung
Single-Shot Autokorrelator µROC
Kleinster Autokorrelator der Welt
- Wellenlänge: Yb, TiSa, Er
- Pulsdauer: 15 fs – 1,5 ps
- Repetitionsrate: Einzelpuls bis 100 kHz
- Features: Miniaturdesign, robust und sehr einfach zu bedienen
Multi-Shot-Autokorrelator MS-ROC
Vielseitige Messung repetitiver fs- und ps-Pulse
- Wellenlänge: 480-2200 nm
- Pulsdauer: 4 fs – 80 ps
- Repetitionsrate: 100 Hz bis GHz
- Features: vielseitige Parameter, extrem hohe zeitliche Auflösung bis 50 as
FROG-Systeme
Pulsdauer. Phase. Spektrum. – FROG kennt den ganzen Puls.
Mit Frequency-Resolved Optical Gating (FROG) lassen sich ultrakurze Laserpulse vollständig charakterisieren – sowohl das zeitabhängige elektrische Feld als auch das optische Spektrum inklusive spektraler Phase. Anders gesagt: FROG zeigt nicht nur die Pulsdauer, sondern auch, wie die spektrale Phase optimiert werden kann, um die kürzestmögliche Pulsform zu erreichen.
Single-Shot Fast FROG
Frequency-Resolved Optical Gating
für Einzelpulse
- Wellenlänge: 480-2100 nm
- Pulsdauer: 4 fs – 10 ps
- Repetitionsrate: Einzelpuls bis 125 kHz
- Features: achromatisch und nicht dispersiv
Multi-Shot FROG
Frequency-Resolved Optical Gating
für repetitive fs- und ps-Pulse
- Wellenlänge: 500-2100 nm
- Pulsdauer: 4 fs – 80 ps
- Repetitionsrate: 100 Hz bis GHz
- Features: extrem hohe zeitliche Auflösung bis 50 as
2D-Spektrometer
Räumlich. Spektral. Aufgelöst. - 2D-Charakterisierung für UKP-Laser
Im Gegensatz zu herkömmlichen Spektrometern, die nur ein eindimensionales, gemitteltes Spektrum erfassen, ermöglicht das Mini Imaging Spatial Spectrometer (MISS) eine vollständige, ortsaufgelöste spektrale Charakterisierung entlang des Laserstrahls. Dadurch lassen sich spatio-spektrale Effekte wie räumlicher Chirp präzise analysieren – etwa in Kompressorstufen von Ultrakurzpulslasern oder bei der Verstärkung breitbandiger Pulse. Dank seiner kompakten Bauweise lässt sich das MISS einfach in komplexe optische Systeme integrieren.
2D-Spektrometer MISS
Räumlich aufgelöste Spektren von ultrakurzen Pulsen erfassen
- Wellenlänge: 240 bis 1700 nm
- Spektrale Auflösung: bis <0.45nm
- Räumliche Auflösung: bis <4.5 µm
- Repetitionsrate: Single-Shot bis zu 75 kHz (UV-VIS) und 200 kHz (SWIR)
Spektroskopie
SFG-Spektroskopie-Systeme
Die Summe macht den Unterschied
Die SFG-Spektroskopie (Sum-Frequency Generation) ist eine nichtlineare optische Methode zur Untersuchung von Molekülen an Ober- und Grenzflächen (z. B. Fest-Flüssig). Ein sichtbarer und ein IR-Laser erzeugen ein Summenfrequenzsignal, das nur an nicht-zentrosymmetrischen Strukturen entsteht. Durch Abstimmung auf molekulare Schwingungen liefert SFG selektive, spektral hochaufgelöste Informationen.
- Gesamtsysteme inkl. Laser und Analysesystem
- schmalbandige und breitbandige Systeme
- mit Piko- oder Femtosekundenpulsen
- VIS: 532nm, abstimmbare IR-Laser: 2.5–18 µm
Die passenden SFG-Spektroskopie-Systeme für Sie
ps-SFG Spektrometer | Ekspla
- Messspektrum: 667 – 4300 cm-1
- Spektrale Auflösung: bis zu < 5cm-1
- Messung: Scanning, PMT
- Geringer Einfluss IR-Absoprtion in Luft
fs-SFG Spektrometer | Ekspla
Anregung eines breiten Schwingungsspektrums
- Messspektrum: 1000 – 4300 cm-1
- Spektrale Auflösung: bis zu < 5cm-1
- Messung: Breitband-Akkumulation, CCD
- Biologische, wasserhaltige Proben
Nanosekunden TA-Systeme
Maximale Empfindlichkeit. Minimales Rauschen. Kompaktes Design. TA-Spektrometer für den Labortisch
Die TA‑Spektrometer von Magnitude Instruments sind kompakte All-in-One‑Systeme für die zeitaufgelöste transiente Absorptionsspektroskopie und überzeugen durch außergewöhnliche Sensitivität und schnelle Datenerfassung. Dank patentierter Rauschunterdrückung lassen sich selbst kleinste Signale präzise messen, während geringe Pumpenergien den Einfluss auf die Probe minimieren und nichtlineare sowie thermische Artefakte reduzieren.
Alle Komponenten – von der Lichtquelle bis zum Detektor – sind in einem kompakten Tischgerät vereint, das so handlich ist, dass es problemlos auf einem Labortisch Platz findet. Von Wissenschaftlern für Wissenschaftler entwickelt, verbinden diese Systeme höchste Empfindlichkeit, schnelle Messgeschwindigkeit und intuitive Bedienung in einem einzigen Gerät.
enVISTA™
Nanosekunden UV/VIS/NIR TA-Spektrometer
- Detektionslimit:
- Anregung: 1064, 532, 355, 266 nm oder abstimmbar
- Probe: 300-1050 oder 800-1650 nm
- Schnelle Datenerfassung
enVISion™
Nanosekunden UV/VIS/NIR TA-Spektrometer
- Detektionslimit:
- Anregung: 1064, 532, 355, 266 nm oder abstimmbar
- Probe: 250-2550 nm
- Schnelle Datenerfassung
inspIRe™
Nanosekunden MIR TA-Spektrometer
- Detektionslimit:
- Anregung: 1064, 532, 355, 266 nm oder abstimmbar
- Probe: 2,5-10 µm
- Schnelle Datenerfassung
Echelle-Spektrometer
Ein Messvorgang, das gesamte Spektrum – detailgenau bis ins Pikometer
Diese neuartigen Echelle-Spektrometer ermöglichen die gleichzeitige Erfassung breiter Wellenlängenbereiche bei höchster spektraler Auflösung – ideal für Anwendungen, bei denen spektrale Detailtreue und Vollständigkeit gefragt sind. Durch die Kombination aus Echelle-Gitter und querdispergierendem Element wird das Licht zweidimensional auf einem Flächendetektor aufgelöst – ein Verfahren, das spektrale Auflösung im Pikometerbereich über einen großen spektralen Bereich in nur einer Aufnahme ermöglicht.
RS10K Echelle-Spektrometer
- Spektralbereich: 450-1030 nm
- Auflösungsvermögen: 17000-8000
- Wellenlängen-Genauigkeit: <50 pm
- Signal-Rauschverhältnis: 300:1
- Eingang: SMF FC/PC
RS40K Echelle-Spektrometer
- Spektralbereich: 430-950 nm
- Auflösungsvermögen: 44000-32000
- Wellenlängen-Genauigkeit: <20 pm
- Signal-Rauschverhältnis: 300:1
- Eingang: SMF FC/PC
Infrarot-Sichtgeräte & Infrarot-Kameras
Das Unsichtbare im Blick - Laserjustage und Lasersicherheit mit IR-Viewern
IR-Viewer und -Kameras sind unverzichtbare Werkzeuge zur Visualisierung von Infrarot-Laserstrahlung – insbesondere für die präzise Justage und zur Gewährleistung der Lasersicherheit. Sie liefern hochauflösende IR-Bilder und ermöglichen so die exakte Ausrichtung von Laserstrahlen, die Überwachung von IR-Emissionen sowie die Analyse optischer Systeme. Durch ihre kompakte Bauweise, hohe Empfindlichkeit und einfache Handhabung eignen sie sich ideal für Anwendungen in der Laserfertigung, im Laser-Anlagenbau und dem Einsatz in Forschungslaboren.
IR-Viewer VIR
Hochsensitives Infrarotsichtgerät bis 2 µm
- Wellenlänge: 350-2000 nm
- Auflösung: 60 Lp/mm
- Sichtfeld: 40° oder 20°
- Vergrößerung: 1x oder 2x
IR-Viewer PixIR
Kostengünstiges Infrarotsichtgerät
- Wellenlänge: 400-1700 nm
- Auflösung: 30 Lp/mm
- Sichtfeld: 38° oder 19°
- Vergrößerung: 1x oder 2x
IR-Kamera DigIR
mit Software & Display
- Wellenlänge: 400-1900 nm
- Auflösung: 30 Lp/mm
- Sichtfeld: 38° oder 19°
- Vergrößerung: 1x oder 2x
- 4″ LCD-Display
IR-Kamera MiniC
mit Software
- Wellenlänge: 400-1900 nm
- Auflösung: 30 Lp/mm
- Sichtfeld: 38° oder 19°
- Vergrößerung: 1x oder 2x
- USB-C-Konnektivität