SFG-Spektroskopiesysteme
Die meisten SFG-Spektroskopie-Systeme nutzen breitbandige Femtosekundenpulse für schnelle Spektren ohne Scan. Diese Systeme stoßen aber an ihre Grenzen, sobald zwei Resonanzen nur wenige Wellenzahlen auseinanderliegen. Für genau diesen Fall hat Ekspla das Scanning ps-SFG Spektrometer entwickelt. Es misst mit schmalbandigen Pikosekundenpulsen und erreicht eine spektrale Auflösung von bis zu < 3 cm⁻¹, bei einem lückenlos durchstimmbaren Bereich von 2,3 bis 16 µm über die gesamte Fingerprint-Region. Trotz der punktweisen Messung erreicht es, dank schnellem Wellenlängen-Sweep, eine mit breitbandigen Systemen vergleichbare Messgeschwindigkeit.
Wo Femtosekundenpulse gefragt sind, beispielsweise bei empfindlichen wässrigen oder biologischen Proben, bieten wir zusätzlich ein Broadband fs-SFG Spektrometer mit bis zu < 9 cm⁻¹ Auflösung an. Beide Systeme sind Gesamtsysteme (inkl. Laser und Analysesystem) und lassen sich individuell erweitern, zum Beispiel für Doppelresonanz- oder phasensensitive Messungen.
SFG-Spektroskopiesysteme im Überblick
Scanning ps-SFG Spektrometer | Ekspla
Schmalbandige Anregung für hohe spektrale Auflösung
- Messspektrum: 625 – 4300 cm⁻¹
- Spektrale Auflösung: bis zu < 3 cm⁻¹
- Messung: Fast Scan mit PMT-Detektion
- Optimiert für Spektrentrennung inkl. Fingerprint-Region
Broadband fs-SFG Spektrometer | Ekspla
Breitbandige Anregung für schnelle Spektrenerfassung
- Messspektrum: 1000 – 4300 cm⁻¹
- Spektrale Auflösung: bis zu < 3 cm⁻¹
- Messung: Breitband-Akkumulation mit CCD-Detektion
- Optimiert für schnelle und zeitaufgelöste Messungen
Nanosekunden-TA-Systeme
Die TA-Spektrometer von Magnitude Instruments sind kompakte All-in-One-Systeme für die zeitaufgelöste transiente Absorptionsspektroskopie und überzeugen durch außergewöhnliche Sensitivität und schnelle Datenerfassung. Dank patentierter Rauschunterdrückung lassen sich selbst kleinste Signale präzise messen, während geringe Pumpenergien den Einfluss auf die Probe minimieren und nichtlineare sowie thermische Artefakte reduzieren.
Alle Komponenten – von der Lichtquelle bis zum Detektor – sind in einem kompakten Tischgerät vereint, das so handlich ist, dass es problemlos auf einem Labortisch Platz findet. Von Wissenschaftlern für Wissenschaftler entwickelt, verbinden diese Systeme höchste Empfindlichkeit, schnelle Messgeschwindigkeit und intuitive Bedienung in einem einzigen Gerät.
UV-VIS-NIR-Spektrometer
Das ARIS Spektrometer verbindet hohe Empfindlichkeit, geringes Streulicht und kompakte Bauweise in einem laborgeeigneten Spektrometer für Forschung, Industrie, portable Messsysteme und OEM-Anwendungen.
Mit sechs konfigurierbaren Wellenlängenbereichen und integrierter Signalverarbeitung bietet ARIS eine flexible Lösung für die UV-VIS- und NIR-Spektroskopie. Die kompakte Bauform ermöglicht eine einfache Integration in bestehende Messaufbauten und kundenspezifische Systeme.
ARIS Spektrometer im Überblick
ARIS UV
Für Anwendungen im kurzwelligen UV-Bereich mit hoher spektraler Auflösung
- Wellenlängenbereich: 185–420 nm
- Spektrale Auflösung: 0,33 nm typ. / 0,40 nm max. FWHM
- Standardspalt: 20 µm
ARIS UV/VIS
Deckt den UV- und sichtbaren Bereich ab, für vielseitige Spektralanalyse
- Wellenlängenbereich: 185–550 nm
- Spektrale Auflösung: 0,40 nm typ. / 0,60 nm max. FWHM
- Standardspalt: 20 µm
ARIS VIS
Messungen im sichtbaren Bereich für optische und industrielle Anwendungen
- Wellenlängenbereich: 350–840 nm
- Spektrale Auflösung: 0,60 nm typ. / 0,70 nm max. FWHM
- Standardspalt: 20 µm
ARIS VIS/NIR
Deckt sichtbaren und nahen Infrarot-Bereich ab, für flexible Spektralanalyse
- Wellenlängenbereich: 510–1020 nm
- Spektrale Auflösung: 0,80 nm typ. / 1,00 nm max. FWHM
- Standardspalt: 20 µm
ARIS Wide
Breitbandiges UV-VIS-Spektrometer für einen großen Messbereich
- Wellenlängenbereich: 185–1000 nm
- Spektrale Auflösung: 1,00 nm typ. / 1,20 nm max. FWHM
- Standardspalt: 20 µm
ARIS Wide NIR
Breitbandiges Spektrometer für VIS- und NIR-Spektralanalyse
- Wellenlängenbereich: 300–1100 nm
- Spektrale Auflösung: 1,10 nm typ. / 1,40 nm max. FWHM
- Standardspalt: 20 µm
ARIS Spektrometer Erweiterungen
User-Replaceable Entrance Slits
Anpassung von spektraler Auflösung und Lichtdurchsatz
- Spaltbreiten: 10, 20, 50, 75, 100, 150, 200 und 300 µm
- Anwenderseitig austauschbar
- Funktion: Anpassung von Auflösung und Lichtdurchsatz
- Geeignet für: unterschiedliche Spektralanwendungen und Messbedingungen
Direct-Attach Collimator
Kombiniert Kollimator und Eingangsspalt in einer Einheit
- Integrierter Eingangsspalt: 20 / 50 / 100 µm
- Direkte Montage: am Spektrometer
- Funktion: Lichtsammlung und Kollimation
- Geeignet für: kompakte und fasergekoppelte Messaufbauten
Cosine Corrector
Definierte Lichtsammlung für Bestrahlungs-stärkemessungen
- Akzeptanzwinkel: 180°
- Charakteristik: nahezu kosinusförmige Winkelabhängigkeit
- Funktion: definierte Lichtsammlung
- Geeignet für: Irradiance-, Lichtquellen- und Spektralmessungen
Fiber-optical Patch Cables
Verbindung von Lichtquellen, Sampling-Optiken und ARIS Spektrometern
- Anschlüsse: SMA905
- Ausführungen: verschiedene optische Fasern
- Schutz: Gummi-Schutzkappen
- Option: kundenspezifische Fasern auf Anfrage
SMA Collimator
Flexible Kollimation divergenter Faserstrahlung
- Anschluss: SMA
- Funktion: Kollimation und Faserkopplung
- Anpassbar: Field of View und Lichtsammlung
- Geeignet für: fasergekoppelte Spektroskopie
Wellenlängenmessgerät für Laser
Das WS600 High-Resolution Wide-Range Wavelength Meter ist ein hochauflösendes Wellenlängenmessgerät für Laser zur schnellen und präzisen Bestimmung der absoluten Laserwellenlänge.
Mit einem Spektralbereich von 190 bis 1100 nm und einer absoluten Genauigkeit von ±3 pm eignet sich das WS600 für die Charakterisierung, Justage und Überwachung unterschiedlichster Laserquellen. Zusätzlich zur Wellenlängenmessung können das Spektrum und die FWHM (Full Width at Half Maximum) der analysierten Spektrallinie bestimmt werden. Das Messsystem arbeitet sowohl mit CW- als auch mit gepulsten Lasern und ermöglicht eine Echtzeitüberwachung der Wellenlänge während des Lasertunings.
Wavemeter im Überblick
Wavemeter WS600
Präzises Wellenlängenmessgerät für Laser- und Spektralanalyse
- Messbereich: 190–1100 nm
- Wellenlängengenauigkeit: ±3 pm
- Spektrale Auflösungsgrenze: 6 pm bei 193 nm bis 40 pm bei 1200 nm
- Source Linewidth: ≤125 cm⁻¹
- Laser: CW & gepulst
- Empfindlichkeit: <0,5 µW @ 632,8 nm
- Einkopplung: Faser oder direkt
- Trigger: TTL, 3–15 V
Wavemeter Software
Die intuitive Software WLMeter unterstützt Anwender dabei, Laserwellenlängen, Spektren und Linienbreiten schnell zu erfassen und über die Zeit hinweg zu überwachen.
- Wellenlänge: absolute Wellenlängenmessung
- Spektrum: hochauflösende Spektraldarstellung
- FWHM: Bestimmung der spektralen Linienbreite
- Echtzeit: Überwachung beim Lasertuning
- Lines Array: Wellenlängenverlauf über die Zeit
- Kalibrierung: Referenzwellenlänge, z. B. He-Ne 632,816 nm
- Daten: Speichern und Exportieren von Messdaten
Räumlich-spektral aufgelöste Messungen
Das MISS Spektrometer (Mini Imaging Spatial Spectrometer) von Femto Easy ermöglicht die räumlich aufgelöste Spektralanalyse von Laserstrahlen. Im Gegensatz zu konventionellen Spektrometern macht es spektrale Variationen über den Strahlquerschnitt sichtbar und ermöglicht die präzise Charakterisierung von spatio-spektralen Kopplungen und des Spatial Chirp.
MISS erfasst dabei sowohl horizontalen als auch vertikalen Spatial Chirp und eignet sich ideal für die Charakterisierung und Optimierung von Ultrakurzpulslasern und breitbandigen Lasersystemen. Dank der kompakten Bauweise lässt sich das 2D-Spektrometer flexibel in bestehende optische Aufbauten und verschiedene Stufen verstärkender Lasersysteme integrieren.
MISS-Spektrometer im Überblick
2D-Spektrometer MISS UV-VIS
Räumlich aufgelöste Spektren von ultrakurzen Pulsen erfassen
- Wellenlänge: 240 bis 1100 nm
- Spektrale Auflösung: bis <0.35nm
- Räumliche Auflösung: bis <3.6 µm
- Repetitionsrate: Single-Shot bis zu 75 kHz
2D-Spektrometer MISS SWIR
Räumlich aufgelöste Spektren von ultrakurzen Pulsen erfassen
- Wellenlänge: 400 bis 1700 nm
- Spektrale Auflösung: bis 1 nm
- Räumliche Auflösung: bis 6.3 µm
- Repetitionsrate: Single-Shot bis zu 200 kHz
Echelle-Spektrometer
Die Echelle-Spektrometer RS10K und RS40K ermöglichen die gleichzeitige Erfassung großer Spektralbereiche mit hoher spektraler Auflösung. Sie eignen sich ideal für Lasercharakterisierung, hochauflösende Spektroskopie und präzise optische Spektralanalyse.
Das Echelle-Prinzip kombiniert ein Echelle-Gitter mit einem Querdispersions-Element. Das Spektrum wird zweidimensional auf einem Flächendetektor abgebildet und dadurch in einer einzigen Aufnahme und ohne mechanisches Scannen erfasst. Mit einem Auflösungsvermögen von R = 8.000–17.000 beim RS10K und R = 32.000–44.000 beim RS40K bieten beide Systeme eine hohe spektrale Detailauflösung bei gleichzeitig großer simultaner Spektralabdeckung.
Kernvorteil: Das gesamte Spektrum erfassen und feinste spektrale Strukturen analysieren (schnell, vollständig und ohne mechanisches Scannen).
Echelle-Spektrometer im Überblick
RS10K Echelle-Spektrometer
Hochauflösendes Echelle-Spektrometer für breite Spektralbereiche
- Spektralbereich: 450–1030 nm
- Auflösungsvermögen [R = λ/Δλ]:000–8.000
- Spektrale Auflösung [Δλ]: 60 pm @ 632,8 nm (FWHM)
- Wellenlängengenauigkeit: <50 pm
- Signal-Rausch-Verhältnis: 300:1
- Messrate: bis 10 Hz
RS40K Echelle-Spektrometer
Hochauflösendes Echelle-Spektrometer für anspruchsvolle Spektralanalyse
- Spektralbereich: 430–950 nm
- Auflösungsvermögen [R = λ/Δλ]:000–32.000 (430–950 nm)
- Spektrale Auflösung [Δλ]: ~16 pm (FWHM) @ 632,8 nm
- Wellenlängen-Wiederholbarkeit: <20 pm
- Signal-Rausch-Verhältnis: 300:1
- Messrate: bis 10 Hz
Echelle-Spektrometer Software
Mit der leistungsstarken Software RedSolve lassen sich die Spektren des RS10K und RS40K übersichtlich erfassen, visualisieren und auswerten. Die Software ermöglicht die Live-Darstellung des Spektrums, gezielte Analyse einzelner Spektralbereiche sowie die Aufzeichnung und Weiterverarbeitung der Messdaten.
- Live-Spektrumanzeige
- Spektralanalyse und ROI-Auswahl
- CSV-Datenexport
- Integrierte Datenvisualisierung
- Python-API für automatisierte Messabläufe
- Virtueller Modus zum Testen der Software ohne angeschlossenes Spektrometer